纳米级红外光谱仪

Anasys nanoIR3-s 纳米扫描近场光学成像系统

高性能的 s-SNOM 和 AFM 成像

布鲁克Anasys的 nanoIR3-s 系统将散射扫描近场光学显微镜（s-SNOM）、纳米级红外光谱（AFM-IR）与原子力显微镜（AFM）完美整合到单一平台。依托 Anasys 技术在 AFM 纳米光学表征方面的领先地位，nanoIR3-s 可提供纳米级红外光谱、化学成像和光学成像，在 2D 材料样品上实现 10 纳米空间分辨率。该系统还可以提供达到纳米级分辨率的 AFM 形貌和性能成像，因此是对各种材料科学应用开展相关性研究的理想仪器。
宽带
纳米 FTIR 光谱
可用于开展以前无法实现的飞秒纳米级红外研究。
互补性
s-SNOM 和 AFM-IR 技术
单一平台实现纳米级化学成像和光学成像。
高分辨率
原子力显微镜
提供相关的电学、机械性能和热物性数据。


10nm 空间分辨率化学成像和光谱

石墨烯等离子体

nanoIR - s-SNOM on Graphene Plamonics
石墨烯等离子体：石墨烯楔上表面等离极化激元（SPP）的 s-SNOM 相位和振幅图像。（左图）s-SNOM 相位与 SPP 驻波线型截面；（右图） s-SNOM 振幅。上图是相位图的 3D 视图（左图）。

高分辨性能成像

nanoIR - s-SNOM on Graphene Flake
高分辨性能成像：通过石墨烯片的横截面显示了 10nm 以下分辨率的光学属性成像。


高性能纳米级 FTIR 光谱

PTFI spectrograph
超快宽带s-SNOM光谱，探测分子振动信息。聚四氟乙烯（PTFE）激光干涉图显示，时域（上图）内发生自由感应衰减形式的相干分子振动。样品干涉图中突出显示特征的形成原因是，C-F 模式的对称模式和反对称模式在所产生的频域跳动（左下图）。单层 pNTP（右下图）上展示了纳米级 FTIR 的单层灵敏度。数据提供：Markus Raschke 教授，美国科罗拉多大学博尔德分校。

只有 nanoIR3-s 能够提供：

  • 高性能纳米级 FTIR 光谱

  • 高性能红外近场光谱，采用先进的纳米红外激光源

  • 纳米级 FTIR 光谱，采用集成式DFG，可与宽带同步辐射光源集成

  • 适用于光谱和化学成像的多芯片 QCL 激光源

点光谱技术

POINTspectra 激光器可执行多个波长的光谱分析和高分辨光学成像。nanoIR3-s让测试更加简单：

  1. 在 AFM 图像中选择要测量的特征

  2. 测量样品的波谱，选择感兴趣的波长

  3. 采集高分辨光学属性图

根据对多个波长的干涉图的快速测量，获得空间分辨率达到 10nm 的振幅和相位图像     实现 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于互补性红外光谱分析。

Broadband Laser Option

Nanoscale FTIR spectroscopy with the broadest available spectral range (670 to 4000 cm⁻¹)

Equipped with optional OPO/DFG femtosecond laser technology, the nanoIR3-s system delivers the broadest spectral range to enable high-performance combined spectroscopy and high-resolution nanochemical imaging. This unique set of capabilities enables research in a broad range of research areas in historically inaccessible spectral regions.


Complementary high-resolution imaging

High-quality, high-resolution nano-optical images can be generated for characterization of a wide range of optical phenomena, such as graphene plamonics and surface phonon polaritons in hexagonal boron nitride (hBN), and chemical imaging of biological and other organic samples.