布鲁克的Dimension XR扫描探针显微镜（SPM）系统攘括了原子力显微镜数十年来的研究和技术创新。通过常规的真原子相分辨率，以及一系列独特的技术，包括峰值力轻敲模式、数据立方体模式、SECM和AFM-nDMA，Dimesnion XR系统可提供较强的性能和功能。Dimension XR 系列将这些技术整合提供的解决方案，以满足纳米力学、纳米电气和纳米电化学应用的需求。在空气、流体、电气或化学反应环境中对材料和纳米尺度系统的定量研究从未如此简单。

无论是在液体环境中获得样品真原子相，还是在空气中获得样品模量和导电性的原子级分辨率分布，Dimension XR系统在所有测量中都能提供高的分辨率。它们使用布鲁克专有的峰值力轻敲技术在各种软硬样品上的性能表征已成为行业标杆，包括聚合物中的分子缺陷或晶体中的缺陷。同样技术也被用来分辨粗糙玻璃上的精细起伏结构，且具有惊人的稳定性。Dimension XR系统将峰值力轻敲模式与极致稳定性、独特的探针技术和布鲁克数十年的针尖扫描创新经验相结合，在各种尺寸、重量或介质的样品上，在任何应用中都实现了稳定的高分辨率成像。